Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1638
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКонорева, О. В.-
dc.contributor.authorОпилат, В. Я.-
dc.contributor.authorПінковська, М. Б.-
dc.contributor.authorПопов, В. Ю.-
dc.contributor.authorРешетнік, М. С.-
dc.contributor.authorТартачник, В. П.-
dc.date.accessioned2016-09-16T10:21:38Z-
dc.date.available2016-09-16T10:21:38Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.citationНеруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодах / О. В. Конорева, В. Я. Опилат, М. Б. Пінковська [та ін.] // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 24-27.uk_UA
dc.identifier.urihttp://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1638-
dc.description.abstractВстановлено, що для червоних світлодіодів характерним є різкий розподіл домішок в межах р-n переходу, у зелених переважно лінійний, У досліджуваних структурах формується два механізми пробою: тунельний та лавинний. Опромінення швидкими нейтронами реактора (Есер = 2 МеВ) спричиняє зростання імовірності тунельного пробою в зелених діодах, лавинного - у червоних.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherІФНТУНГuk_UA
dc.titleНеруйнівний контроль структурних дефектів у вихідних та опромінених реакторними нейтронами фосфідо-галієвих світлодіодахuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Методи та прилади контролю якості - 2006 - №17

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2165p.pdf5.57 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record   Google Scholar


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.