http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Опилат, В. Я. | - |
dc.contributor.author | Тартачник, В. П. | - |
dc.contributor.author | Худецький, М. В. | - |
dc.contributor.author | Макота, Ю. А. | - |
dc.date.accessioned | 2016-09-16T10:24:38Z | - |
dc.date.available | 2016-09-16T10:24:38Z | - |
dc.date.issued | 2006 | - |
dc.identifier.citation | Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах / В. Я. Опилат, В. П. Тартачник, М. В. Худецький, Ю. А. Макота // Методи та прилади контролю якості. - 2006. - № 17. - С. 28-30. | uk_UA |
dc.identifier.uri | http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/1640 | - |
dc.description.abstract | Описано деградаційно - релаксаційні процеси у світлодіодах GаР, зумовлені ультразвуковою обробкою. Виявлено ефект оборотності деградаційного процесу. В основі досліджуваного явища лежить формування нестабільних дислокаційних сіток. Метод ультразвукової обробки може бути застосований з метою виявлення мікродефектів структури у напівпровідникових приладах. | uk_UA |
dc.language.iso | uk | uk_UA |
dc.publisher | ІФНТУНГ | uk_UA |
dc.title | Неруйнівний контроль деградаційно-релаксаційних процесів у фосфідо-галієвих світлодіодах | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |
Appears in Collections: | Методи та прилади контролю якості - 2006 - №17 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.