Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3181
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГалущак, М. О.-
dc.contributor.authorДзундза, Б. С.-
dc.contributor.authorТкачук, А. І.-
dc.contributor.authorФреїк, Д. М.-
dc.date.accessioned2017-02-14T14:28:37Z-
dc.date.available2017-02-14T14:28:37Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationАвтоматизований комплекс для вимірювань термоелектричних параметрів напівпровідників / М. О. Галущак, Б. С. Дзундза, А. І. Ткачук, Д. М. Фреїк // Методи та прилади контролю якості. - 2013. - № 1. - С. 79-83.uk_UA
dc.identifier.issn1993-9981-
dc.identifier.urihttp://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/3181-
dc.description.abstractНаведено варіанти реалізації диференційного методу оцінювання якості продукції за її електричними параметрами. Проаналізовано відношення вимірюваних складових імітансів контрольованого та базового зразків продукції, а також вимірювані складові відношення їхніх імітансів. Наводяться схеми засобів практичної реалізації способів порівняння параметрів імітансу як відносних показників якості.uk_UA
dc.description.abstractПриведены варианты реализации дифференциального метода оценки качества продукции по электрическим параметрам. Проанализированы отношения измеряемых составляющих иммитанса контролируемого и базового образцов продукции, а также измеряемые составляющие отношения их иммитансов. Приводятся схемы средств практической реализации способов сравнения параметров иммитанса как относительных показателей качества.uk_UA
dc.description.abstractPresents variants of the differential method for assessing the quality of products per they the electrical parameters. Analyzed the relationship of the measured constituents immitance controlled and basic product samples and measured the ratio of their constituents immitance. Presents schemes of practical means of implementing the methods of comparison parameters immitance as relative indicators of quality.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherІФНТУНГuk_UA
dc.subjectякістьuk_UA
dc.subjectпродукціяuk_UA
dc.subjectдиференційний методuk_UA
dc.subjectімітансuk_UA
dc.subjectелектричний параметрuk_UA
dc.subjectоцінюванняuk_UA
dc.subjectкачествоuk_UA
dc.subjectпродукцияuk_UA
dc.subjectдифференциальный методuk_UA
dc.subjectиммитансuk_UA
dc.subjectэлектрический параметрuk_UA
dc.subjectоценкаuk_UA
dc.subjectquality productsuk_UA
dc.subjectdifferential methoduk_UA
dc.subjectimmitanceuk_UA
dc.subjectelectric parameteruk_UA
dc.subjectestimationuk_UA
dc.titleАвтоматизований комплекс для вимірювань термоелектричних параметрів напівпровідниківuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Методи та прилади контролю якості - 2013 - № 30

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
3326p.pdf401.26 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record   Google Scholar


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.