http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/498| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Лютак, І. З. | - |
| dc.contributor.author | Кісіль, І.С. | - |
| dc.date.accessioned | 2016-07-12T08:34:42Z | - |
| dc.date.available | 2016-07-12T08:34:42Z | - |
| dc.date.issued | 2000 | - |
| dc.identifier.citation | Визначення частотних характеристик двошарового п'єзоелектричного чутливого елемента при осеметричному згині / І. З. Лютак, І. С. Кісіль // Методи та прилади контролю якості. - 2000. - № 6. - С. 21-24. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | http://elar.nung.edu.ua/handle/123456789/498 | - |
| dc.description.abstract | Досліджено вплив геометричних і фізичних параметрів двошарового п'єзоелектричного чутливого елемента на його частотні характеристики. Визначено рівняння стану чутливого п'єзоелектричного елемента, а також краєві умови для розв'язку цього рівняння. | uk_UA |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.publisher | ІФНТУНГ | uk_UA |
| dc.title | Визначення частотних характеристик двошарового п'єзоелектричного чутливого елемента при осеметричному згині | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| Appears in Collections: | Методи та прилади контролю якості - 2000 - № 6 | |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.