| Переглядів | |
|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 142 |
| грудня 2025 | січня 2026 | лютого 2026 | березня 2026 | квітня 2026 | травня 2026 | червня 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 17 | 10 | 9 | 8 | 9 | 7 | 11 |
| Переглядів | |
|---|---|
| 881p.pdf | 41 |
| Переглядів | |
|---|---|
| United States | 76 |
| Germany | 13 |
| China | 12 |
| Japan | 6 |
| Brazil | 5 |
| Vietnam | 5 |
| Україна | 3 |
| Argentina | 2 |
| Australia | 2 |
| Iran | 2 |
| Переглядів | |
|---|---|
| San Mateo | 10 |
| Tokyo | 6 |
| Emeryville | 5 |
| Ann Arbor | 4 |
| Ashburn | 4 |
| Beijing | 4 |
| Fairfield | 3 |
| Kiev | 3 |
| Basking Ridge | 2 |
| Hebei | 2 |