| Переглядів | |
|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 208 |
| червня 2024 | липня 2024 | серпня 2024 | вересня 2024 | жовтня 2024 | листопада 2024 | грудня 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 6 | 0 | 6 | 0 | 4 | 4 | 1 |
| Переглядів | |
|---|---|
| 881p.pdf | 89 |
| Переглядів | |
|---|---|
| United States | 132 |
| China | 24 |
| Україна | 13 |
| Sweden | 12 |
| Germany | 8 |
| United Kingdom | 5 |
| Greece | 3 |
| India | 2 |
| Russia | 2 |
| Albania | 1 |
| Переглядів | |
|---|---|
| San Mateo | 16 |
| Ann Arbor | 12 |
| Dublin | 10 |
| Fairfield | 10 |
| Louisville | 10 |
| Redwood City | 10 |
| San Francisco | 10 |
| Boardman | 7 |
| Ashburn | 6 |
| San Ramon | 6 |