| Переглядів | |
|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 238 |
| грудня 2024 | січня 2025 | лютого 2025 | березня 2025 | квітня 2025 | травня 2025 | червня 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Стаціонарний метод визначення термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів | 1 | 5 | 1 | 6 | 6 | 9 | 3 |
| Переглядів | |
|---|---|
| 881p.pdf | 100 |
| Переглядів | |
|---|---|
| United States | 154 |
| China | 24 |
| Україна | 15 |
| Sweden | 12 |
| Germany | 8 |
| United Kingdom | 5 |
| Greece | 3 |
| India | 3 |
| Australia | 2 |
| Iran | 2 |
| Переглядів | |
|---|---|
| San Mateo | 19 |
| Ann Arbor | 12 |
| Fairfield | 11 |
| Dublin | 10 |
| Louisville | 10 |
| Redwood City | 10 |
| San Francisco | 10 |
| Boardman | 7 |
| Ashburn | 6 |
| San Ramon | 6 |