Мікропроцесорна корекція значення електрорушійної сили насичених нормальних елементів

Abstract

Проведено аналіз похибок температурних поправок і визначено їх залежності від похибок вимірювання температури нормального елементу. Показано, що при вимірюванні відхилення температури нормального елемента від температури повірки досягається вища точність визначення значень поправок. Запропоновано структуру мікропроцесорної міри е.р.с. на основі насиченого нормального елементу типу Х482 з автоматичною температурною поправкою значення е.р.с. Запропоновано метод обробки результатів відхилення температури, який повністю компенсує вплив напруги зміщення нульового рівня операційних підсилювачів і аналого–цифрового перетворювача. Описано цифровий метод лінеаризації передавальної характеристики терморезистивного перетворювача. Розроблено конструкцію термовирівнювача і представлено основні результати експериментальних досліджень виготовленого зразка мікропроцесорної міри е.р.с.

Проведен анализ погрешностей температурных поправок и определены их зависимости от погрешностей измерения температуры нормального элемента. Показано, что при измерении отклонения температуры нормального элемента от температуры поверки достигается высшая точность определения значений поправок.Предложена структура микропроцессорной меры э.д.с. на основе насыщенного нормального элемента типа Х482 с автоматической температурной поправкой значения э.д.с. Предложен метод обработки результатов отклонения температуры, который полностью компенсирует влияние напряжения смещения нульового уровня операционных усилителей и аналого–цифрового преобразователя. Описан цифровой метод линеаризации передаточной характеристики терморезистивного преобразователя. Разработана конструкция термовыравнивателя и представлены основные результаты экспериментальных исследований изготовленного образца микропроцессорной меры э.д.с

The temperature corrections of errors is analysed and their dependence on temperature measurement errors of the normal element is defined. It is shown that in the case of measurement the temperature deviation of the normal element from the calibration temperature higher accuracy of the amendments values determination is achieved. The structure of the thermo–emf microprocessor measure based on saturated standard cell type H482 with automatic temperature correction of the thermo–emf values is proposed. The method of processing the results of temperature deviation, which fully compensates the effect of offset voltage of operational amplifiers and analog–digital converter. We describe a digital linearization method of transfer characteristics of the thermoresistive converter. The thermo–adjustor structure is designed and the main results of experimental studies of the thermo–emf microprocessor measure are presented.